{"id":14486,"date":"2026-04-27T09:00:58","date_gmt":"2026-04-27T09:00:58","guid":{"rendered":"https:\/\/revistanyt.com.ar\/online\/?p=14486"},"modified":"2026-06-18T16:03:59","modified_gmt":"2026-06-18T16:03:59","slug":"la-fan-realizo-una-capacitacion-en-microscopia-de-fuerza-atomica-afm-para-la-caracterizacion-de-materiales-en-la-nanoescala","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/revistanyt.com.ar\/online\/la-fan-realizo-una-capacitacion-en-microscopia-de-fuerza-atomica-afm-para-la-caracterizacion-de-materiales-en-la-nanoescala\/","title":{"rendered":"La FAN realiz\u00f3 una Capacitaci\u00f3n en Microscop\u00eda de Fuerza At\u00f3mica (AFM) para la caracterizaci\u00f3n de materiales en la nanoescala"},"content":{"rendered":"

La Fundaci\u00f3n Argentina de Nanotecnolog\u00eda (FAN) llev\u00f3 a cabo una capacitaci\u00f3n sobre el uso de microscop\u00eda de fuerza at\u00f3mica (AFM), utilizando el equipo Nanosurf FlexAFM disponible en nuestro laboratorio.<\/strong><\/span><\/p>\n

La actividad fue co-organizada junto al Instituto de Nanosistemas (INS-UNSAM) y estuvo a cargo de la Dra. Mercedes Linares Moreau, investigadora postdoctoral del Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona (ICMAB-CSIC, Espa\u00f1a)<\/a>, especialmente invitada para dictar esta capacitaci\u00f3n.<\/p>\n

La Dra. Linares Moreau es Doctora en F\u00edsica por la UNSAM (Argentina) y especialista en t\u00e9cnicas de Microscop\u00eda de Sonda de Barrido (SPM), contando con m\u00e1s de diez a\u00f1os de experiencia en la aplicaci\u00f3n de estas t\u00e9cnicas para el estudio y dise\u00f1o de nanomateriales. Actualmente es parte del grupo de investigaci\u00f3n de la Dra. Esther Barrena<\/a> en el ICMAB-CSIC<\/a>, especializado en la caracterizaci\u00f3n y manipulaci\u00f3n de superficies e interfaces en la nanoescala con aplicaciones en dispositivos electr\u00f3nicos.<\/p>\n

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La t\u00e9cnica de AFM permite obtener im\u00e1genes tridimensionales de superficies a escala nanom\u00e9trica. Esta t\u00e9cnica utiliza una sonda que \u201crecorre\u201d la superficie midiendo su relieve punto por punto, lo que permite caracterizar estructuras, rugosidad y propiedades superficiales de una amplia variedad de materiales.<\/p>\n

Durante la capacitaci\u00f3n, Mercedes desarroll\u00f3 contenidos te\u00f3ricos y pr\u00e1cticos sobre el uso de AFM, brindando herramientas clave para la caracterizaci\u00f3n de materiales a escala nanom\u00e9trica.<\/p>\n

Su contribuci\u00f3n permiti\u00f3 fortalecer las capacidades t\u00e9cnicas de las personas participantes, como as\u00ed tambi\u00e9n al desarrollo de nuestros servicios tecnol\u00f3gicos. Agradecemos especialmente su experiencia y valioso aporte, y esperamos seguir generando instancias de trabajo conjunto en el futuro.<\/p>\n

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Imagen de esferas de poliestireno dispuestas en un arreglo hexagonal, sobre las cuales se ha depositado una fina capa de oro. Este tipo de estructura se utiliza como sustrato para mediciones mediante espectroscop\u00eda Raman amplificada en superficie (SERS). Cr\u00e9ditos: muestras provistas por la Dra. Fernanda Cardinal (INS); imagen adquirida con el equipo Nanosurf FlexAFM (FAN); micrograf\u00eda obtenida por Mercedes Linares Moreau (ICMAB-CSIC).<\/span><\/p><\/div>

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Fuente: FAN<\/span><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

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