La FAN realizó una Capacitación en Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) para la caracterización de materiales en la nanoescala

La Fundación Argentina de Nanotecnología (FAN) llevó a cabo una capacitación sobre el uso de microscopía de fuerza atómica (AFM), utilizando el equipo Nanosurf FlexAFM disponible en nuestro laboratorio.

La actividad fue co-organizada junto al Instituto de Nanosistemas (INS-UNSAM) y estuvo a cargo de la Dra. Mercedes Linares Moreau, investigadora postdoctoral del Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona (ICMAB-CSIC, España), especialmente invitada para dictar esta capacitación.

La Dra. Linares Moreau es Doctora en Física por la UNSAM (Argentina) y especialista en técnicas de Microscopía de Sonda de Barrido (SPM), contando con más de diez años de experiencia en la aplicación de estas técnicas para el estudio y diseño de nanomateriales. Actualmente es parte del grupo de investigación de la Dra. Esther Barrena en el ICMAB-CSIC, especializado en la caracterización y manipulación de superficies e interfaces en la nanoescala con aplicaciones en dispositivos electrónicos.

La técnica de AFM permite obtener imágenes tridimensionales de superficies a escala nanométrica. Esta técnica utiliza una sonda que “recorre” la superficie midiendo su relieve punto por punto, lo que permite caracterizar estructuras, rugosidad y propiedades superficiales de una amplia variedad de materiales.

Durante la capacitación, Mercedes desarrolló contenidos teóricos y prácticos sobre el uso de AFM, brindando herramientas clave para la caracterización de materiales a escala nanométrica.

Su contribución permitió fortalecer las capacidades técnicas de las personas participantes, como así también al desarrollo de nuestros servicios tecnológicos. Agradecemos especialmente su experiencia y valioso aporte, y esperamos seguir generando instancias de trabajo conjunto en el futuro.

Imagen de esferas de poliestireno dispuestas en un arreglo hexagonal, sobre las cuales se ha depositado una fina capa de oro. Este tipo de estructura se utiliza como sustrato para mediciones mediante espectroscopía Raman amplificada en superficie (SERS). Créditos: muestras provistas por la Dra. Fernanda Cardinal (INS); imagen adquirida con el equipo Nanosurf FlexAFM (FAN); micrografía obtenida por Mercedes Linares Moreau (ICMAB-CSIC).

Fuente: FAN